ミネソタ大学で開催された国際学会TMRC2023に共同研究者のB. York氏（Western Digital社、現Pham研特別研究員）が下記の招待講演を行いました。

[B6] (Invited) B.R. York, Q. Le, X. Liu, S. Okamura, C. Hwang, M.A. Gribelyuk, S. Le, J. Liu, R. Simmons, M. Maeda, F. Tuo, Y. Tao, J. Ohno, H. Takano, P.N. Hai, H. H. Huy, S. Namba, “High Thermal Reliability and High Spin Hall Angle Observed in SOT-Reader Thin Films Using BiSbX Topological Insulators”.